1.一种半导体器件，包括：
存储器阵列，包括多个存储块，其中，所述存储块被归集到子块组且所述子块组被归集到主块组；
操作电路，适用于对包括在所述存储块中的存储器单元执行读取操作和测试读取操作；以及
读取计数器，适用于对相应的主块组中的每个字线的读取操作的第一数目和对相应的子块组的读取操作的第二数目进行计数。
2.根据权利要求1所述的半导体器件，其中，所述操作电路对选中的存储块执行所述读取操作并对包括所述选中的存储块的子块组执行所述测试读取操作。
3.根据权利要求1所述的半导体器件，其中，在所述读取操作中，所述操作电路将与包括选中的存储块的选中的主块组相对应的读取操作的所述第一数目与主参考数目相比较，并将与包括所述选中的存储块的选中的子块组相对应的读取操作的所述第二数目与所述主参考数目相比较。
4.根据权利要求3所述的半导体器件，其中，当读取操作的所述第一数目中至少一个大于所述主参考数目、且读取操作的所述第二数目大于所述主参考数目时，所述操作电路对所述选中的子块组执行所述测试读取操作。
5.根据权利要求4所述的半导体器件，其中，所述操作电路对包括在所述子块组中的存储块中的与读取操作的所述第一数目大于所述主参考数目的字线相邻的字线执行测试读取操作。
6.根据权利要求5所述的半导体器件，其中，当从所述相邻字线的存储器单元读取的数据包括等于或者大于参考值的错误位时，所述操作电路将所述数据储存至另一个存储块中。
7.根据权利要求6所述的半导体器件，其中，所述数据在所述错误位被错误校正电路校正后被储存在所述另一个存储块中。
8.根据权利要求1所述的半导体器件，其中，所述操作电路对其中读取操作的所述第一数目中至少一个大于所述主参考数目、而读取操作的所述第二数目等于或小于所述 主参考数目并大于子参考数目的子块组执行所述测试读取操作。
9.根据权利要求8所述的半导体器件，其中，所述操作电路对包括在所述子块组中的存储块中的与读取操作的所述第一数目大于所述主参考数目的字线相邻的字线执行测试读取操作。
10.一种半导体器件，包括：
存储器阵列，包括多个存储块，其中，所述存储块被归集到子块组，且所述子块组被归集到主块组：以及
操作电路，适用于：对包括在所述存储块中的存储器单元执行读取操作和测试读取操作，并对相应的主块组中的每个字线的读取操作的第一数目以及对相应的子块组的读取操作的第二数目进行计数，
其中，所述操作电路对读取操作的所述第一数目或者读取操作的所述第二数目大于主参考数目的子块组执行所述测试读取操作。