03之间，包括多条扇出走线307。
[0042]为了降低阵列基板检测线路的生产成本，本实施例中所提供的检测线路使用了现有的测试管脚生产模具来生产，即对于高分辨率和低分辨率的阵列基板，测试管脚区301所包含的测试管脚的数量和排布方式均相同。
[0043]由于低分辨率阵列基板的数据线较少，因此检测线路中信号管脚304的数量要少于测试管脚的数量(通常信号管脚的数量为测试管脚的数量的一半)。所以，本实施例所提供的检测线路中，信号管脚304通过扇出走线307连接至部分测试管脚，并且，与信号管脚304连接的测试管脚均互不相邻。由于外部设备通过测试管脚和扇出走线来将测试信号传输到管脚，进而传输至阵列基板中的薄膜晶体管，因此，测试管脚和扇出走线均需要由导电材料构成。
[0044]本实施例中，测试管脚区301中测试管脚的分布密度大于信号管脚区303中信号管脚的分布密度。由于与信号管脚304连接的测试管脚均互不相邻，因此相较于现有的与信号管脚连接的测试管脚的分布方式，本实施例所提供的检测线路在相同的扇出走线区域内，扇出走线的走线空间更大。这也就使得扇出走线不需要依靠增加走线高度，即依靠增大测试管脚区301与信号管脚区303之间的间隔距离，来满足走线长度、宽度和间隔等设计工艺的要求。因此，相较于现有的检测线路，本实施例所提供的阵列基板检测线路的高度更低，占用面积更小，有利于窄边框液晶显示器的设计与产生。
[0045]本实施例中，测试管脚区301包括第一测试管脚305和第二测试管脚306。其中，第一测试管脚305为与扇出走线307连接的测试管脚，即第一测试管脚305为与信号管脚304对应连接的管脚。第二测试管脚306不与扇出走线307连接，即第二测试管脚306为不与信号管脚304连接的管脚。为了减小扇出走线区域302的高度，即减小测试管脚区301与信号管脚区303之间的间隔距离，本实施例中，相邻的第一测试管脚305之间存在有第二测试管脚306。
[0046]如图3所示，测试管脚区301中各个测试管脚呈“一”字形排列，信号管脚区303中各个信号管脚也成“一”字形排列，并且信号管脚区303与测试管脚区301平行。当然，在本发明的其他实施例中，信号管脚区和测试管脚区中管脚还可以采用其他合理的排列方式，例如弧形排列等，本发明不限于此。
[0047]本实施例中，相邻的第一测试管脚305之间均存在一个第二测试管脚306。需要说明的是，在本发明的其他实施例中，相邻的第二测试管脚之间存在的第二测试管脚的数量还可以为其他合理值，例如2个、3个或是多于3个等，本发明不限于此。
[0048]如图4所示，在本发明的一个实施例中，阵列基板测试线路中相邻的第一测试管脚305之间均存在两个第二测试管脚306。这样，相邻的第一测试管脚305之间的间隔距离进一步增大，这不仅有助于减小扇出走线区302的高度，还有助于减小扇出走线307之间的相互干扰。
[0049]随着第一测试管脚305的分布范围的增大，扇出走线307的分布区域也随之增大。而对于特定尺寸和分辨率的阵列基板，扇出走线307的数量是一定的，所以此时扇出走线307的分布密度将会减小，相邻的两个扇出走线307之间的间隔距离变大。这样也就降低了扇出走线307之间的相互干扰，从而提高了检测结果的准确性。
[0050]同时，第一测试管脚305的分布密度降低也会使得与该检测线路连接的外部测试设备的测试端口中相应走线的分布密度降低，这有助于改善外部测试设备的测试端口处存在的电磁干扰现象，从而进一步提高检测结果的准确性。
[0051]此外还需要说明的是，在本发明的其他实施例中，相邻的第一测试管脚305之间存在的第二测试管脚306的数量还可以不相同，本发明同样不限于此。例如，如图5所示，在本发明的一个实施例中，相邻的第一测试管脚305之间既可以存在一个第二测试管脚306，也可以存在两个第二测试管脚306。
[0052]本发明还提供了一种阵列基板，该阵列基板包括如上所述的检测线路。外部测试设备通过该检测线路来对阵列基板进行检测。
[0053]从上述描述中可以看出，本发明所提供的阵列基板检测线路中，信号管脚通过扇出走线连接至部分测试管脚，并且，与信号管脚连接的测试管脚均互不相邻。因此相较于现有的与信号管脚连接的测试管脚的分布方式，扇出走线的走线空间更大。这也就使得扇出走线不需要依靠增加走线高度，即依靠增大测试管脚区与管脚区之间的间隔距离，来满足走线长度、宽度和间隔等设计工艺的要求。因此，相较于现有的检测线路，本发明所提供的阵列基板检测线路的高度更低，占用面积更小，有利于窄边框液晶显示器的设计与产生。
[0054]应该理解的是，本发明所公开的实施例不限于这里所公开的特定结构，而应当延伸到相关领域的普通技术人员所理解的这些特征的等同替代。还应当理解的是，在此使用的术语仅用于描述特定实施例的目的，而并不意味着限制。
[0055]说明书中提到的“一个实施例”或“实施例”意指结合实施例描述的特定特征、结构或特性包括在本发明的至少一个实施例中。因此，说明书通篇各个地方出现的短语“一个实施例”或“实施例”并不一定均指同一个实施例。
[0056]为了方便，在此使用的多个项目、结构单元、组成单元和/或材料可出现在共同列表中。然而，这些列表应解释为该列表中的每个元素分别识别为单独唯一的成员。因此，在没有反面说明的情况下，该列表中没有一个成员可仅基于它们出现在共同列表中便被解释为相同列表的任何其它成员的实际等同物。另外，在此还可以连同针对各元件的替代一起来参照本发明的各种实施例和示例。应当理解的是，这些实施例、示例和替代并不解释为彼此的等同物，而被认为是本发明的单独自主的代表。
[0057]此外，所描述的特征、结构或特性可以任何其他合适的方式结合到一个或多个实施例中。在上面的描述中，提供一些具体的细节，例如长度、宽度、形状等，以提供对本发明的实施例的全面理解。然而，相关领域的技术人员将明白，本发明无需上述一个或多个具体的细节便可实现，或者也可采用其它方法、组件、材料等实现。在其它示例中，周知的结构、材料或操作并未详细示出或描述以免模糊本发明的各个方面。
[0058]虽然上述示例用于说明本发明在一个或多个应用中的原理，但对于本领域的技术人员来说，在不背离本发明的原理和思想的情况下，明显可以在形式上、用法及实施的细节上作各种修改而不用付出创造性劳动。因此，本发明由所附的权利要求书来限定。
【主权项】
1.一种阵列基板的检测线路，其特征在于，所述检测线路包括: 信号管脚区，其包括多个信号管脚，所述信号管脚与阵列基板中的信号线对应连接； 测试管脚区，其包括多个测试管脚； 扇出走线区，其连接在信号管脚区与测试管脚区之间，包括多条扇出走线，所述信号管脚通过扇出走线连接至部分测试管脚，与信号管脚连接的测试管脚均互不相邻，以使得扇出走线区的高度减小。
2.如权利要求1所述的检测线路，其特征在于，所述信号管脚区中信号管脚的分布密度小于所述测试管脚区中测试管脚的分布密度。
3.如权利要求1或2所述的检测线路，其特征在于，所述测试管脚区包括第一测试管脚和第二测试管脚，各个第一测试管脚与扇出走线对应连接，第二测试管脚不与扇出走线连接，相邻的第一测试管脚之间存在有至少一个第二测试管脚。
4.如权利要求3所述的检测线路，其特征在于，相邻的第一测试管脚之间存在的第二测试管脚的数量相同。
5.如权利要求1所述的检测线路，其特征在于，所述信号线包括数据线。
6.如权利要求1所述的检测线路，其特征在于，所述信号线包括栅极线。
7.如权利要求1所述的检测线路，其特征在于，所述测试管脚在测试管脚区呈“一”字型均匀排列。
8.如权利要求7所述的检测线路，其特征在于，所述信号管脚在信号管脚区沿平行于测试管脚区的方向呈“一”字型均匀排列。
9.如权利要求1所述的检测线路，其特征在于，所述测试管脚由导电材质构成。
10.一种阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括如权利要求1?9中任一项所述的检测线路。
【专利摘要】一种阵列基板的检测线路及阵列基板，其中，检测线路包括：信号管脚区，其包括多个信号管脚，信号管脚与阵列基板中的信号线对应连接；测试管脚区，其包括多个测试管脚；扇出走线区，其连接在信号管脚区与测试管脚区之间，包括多条扇出走线，信号管脚通过扇出走线连接至部分测试管脚，与信号管脚连接的测试管脚均互不相邻，从而使得扇出走线区的高度减小。
【IPC分类】G02F1-13
【公开号】CN104765169
【申请号】CN201510059935
【发明人】田勇, 赵莽
【申请人】深圳市华星光电技术有限公司, 武汉华星光电技术有限公司
【公开日】2015年7月8日
【申请日】2015年2月4日