Tft基板的制作方法及其结构的制作方法_3

文档序号:8446799阅读:来源:国知局
制作方法对第一道干蚀刻制程与第二道干蚀刻制程进行了改善, 通过在第一道干蚀刻制程中将非晶娃层5位于非TFT区域的部分保留一定的厚度,在第二 道干蚀刻制程中形成背沟道51的同时,蚀刻掉在非TFT区域保留下来的非晶娃层5,从而防 止栅极绝缘层4在第二道干蚀刻制程中受到损伤,提高了TFT基板的品质,减少品质问题发 生的风险,并且由于减少了第一道干蚀刻制程的蚀刻量,从而减少了干蚀刻制程时间,缩短 了生产周期,提升了工厂产能。
[0085] 请参阅图17,本发明还提供一种由上述制作方法制备的TFT基板结构,包括:
[0086]基板1,所述基板1上设有TFT区域与非TFT区域;
[0087] 栅极3,所述栅极3于所述TFT区域中部设于所述基板1上;
[008引栅极绝缘层4,所述栅极绝缘层4覆盖所述栅极3与基板1;
[0089] W及对应于所述TFT区域从下到上依次层叠设置于所述栅极绝缘层4上的非晶娃 层5、N型重渗杂非晶娃层6、及源/漏极71。
[0090] 其中,所述N型重渗杂非晶娃层6与源/漏极71在非晶娃层5上分布的位置与尺 寸相同,所述非晶娃层5中部形成有背沟道区51,所述非晶娃层5在该背沟道区51的厚度 小于其它区域的厚度。所述非晶娃层5与N型重渗杂非晶娃层6共同构成半导体层。
[0091] 优选地,所述基板1为玻璃基板。
[0092] 所述栅极3的材料为铜、侣、或钢。
[0093] 所述栅极绝缘层4的材料为氧化娃或氮化娃。
[0094] 所述源/漏极71的材料为铜、侣、或钢。
[0095] 综上所述,本发明的TFT基板的制作方法,通过在第一道干蚀刻制程中将非晶娃 层位于非TFT区域的部分保留一定的厚度,在第二道干蚀刻制程中形成背沟道的同时,蚀 刻掉在非TFT区域保留下来的非晶娃层,从而防止栅极绝缘层在第二道干蚀刻制程中受到 损伤,提高了TFT基板的品质,减少了品质问题发生的风险,并且由于减少了第一道干蚀刻 制程的蚀刻量,从而减少了干蚀刻制程时间,减短了生产周期,提高了工厂产能。本发明的 TFT基板结构,其结构简单,栅极绝缘层完整无损伤,可提高液晶显示器的显示品质。
[0096] W上所述,对于本领域的普通技术人员来说,可W根据本发明的技术方案和技术 构思作出其他各种相应的改变和变形,而所有该些改变和变形都应属于本发明权利要求的 保护范围。
【主权项】
1. 一种TFT基板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤: 步骤1、提供一基板(1),所述基板(1)上设有TFT区域与非TFT区域,在所述基板(1) 上沉积第一金属层,并通过一道光刻制程图案化该第一金属层,形成位于TFT区域中部的 栅极(3); 步骤2、在所述栅极(3)、及基板(1)上依次沉积栅极绝缘层(4)、非晶硅层(5)、N型重 掺杂非晶娃层(6)、及第二金属层(7); 步骤3、在所述第二金属层(7)上涂布一光阻层,并通过一道半色调光罩制程对该光阻 层进行曝光、显影,得到对应TFT区域覆盖于第二金属层(7)上的蚀刻阻挡层(8); 所述蚀刻阻挡层(8)包括薄层区域(81)、及分布于薄层区域(81)两侧的厚层区域 (82),所述薄层区域(81)位于欲形成TFT背沟道的位置; 步骤4、以所述蚀刻阻挡层(8)为遮挡,采用第一道湿蚀刻制程对所述第二金属层(7) 进行蚀刻,保留该第二金属层(7)位于TFT区域的部分; 步骤5、采用第一道干蚀刻制程对非晶硅层(5)、N型重掺杂非晶硅层(6)、及蚀刻阻挡 层(8)进行蚀刻,使得所述N型重掺杂非晶硅层(6)位于非TFT区域的部分被完全蚀刻掉, 而所述非晶硅层(5)位于非TFT区域的部分未被完全蚀刻掉,从而保留一定的厚度,同时使 得所述蚀刻阻挡层(8)的薄层区域(81)被完全蚀刻掉,暴露出部分第二金属层(7); 步骤6、以所述蚀刻阻挡层(8)的厚层区域(82)为遮挡,采用第二道湿蚀刻制程对第二 金属层(7)进行蚀刻,去除第二金属层(7)被暴露出来的部分,形成源/漏极(71); 步骤7、以所述蚀刻阻挡层(8)的厚层区域(82)、及源/漏极(71)为遮挡,采用第二道 干蚀刻制程对所述非晶硅层(5)与N型重掺杂非晶硅层(6)进行蚀刻,去除掉所述N型重 掺杂非晶硅层(6)未被所述源/漏极(71)遮挡的部分,并降低所述非晶硅层(5)未被所述 源/漏极(71)遮挡的部分的厚度,形成背沟道区(51); 在该第二道干蚀刻制程中,所述非晶硅层(5)位于非TFT区域的部分被完全蚀刻掉; 步骤8、去除蚀刻阻挡层(8)的厚层区域(82),得到一TFT基板。
2. 如权利要求1所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述步骤1中,采用物理气 相沉积法沉积所述第一金属层,所述第一金属层的材料为铜、铝、或钼。
3. 如权利要求1所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述步骤2中,采用化学气 相沉积法依次沉积所述栅极绝缘层(4)、非晶硅层(5)、及N型重掺杂非晶硅层(6),所述栅 极绝缘层(4)的材料为氧化硅或氮化硅。
4. 如权利要求1所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述步骤2中,采用物理气 相沉积法沉积所述第二金属层(7),所述第二金属层(7)的材料为铜、铝、或钼。
5. 如权利要求1所述的TFT基板的制作方法,其特征在于,所述步骤7中第二道干蚀刻 制程的蚀刻量大于所述步骤5进行完第一道干蚀刻制程后所述非晶硅层(5)在非TFT区域 保留下来的厚度。
6. -种TFT基板结构,其特征在于,包括: 基板(1),所述基板(1)上设有TFT区域与非TFT区域; 栅极(3),所述栅极(3)于所述TFT区域中部设于所述基板(1)上; 栅极绝缘层(4),所述栅极绝缘层(4)覆盖所述栅极(3)与基板(1); 以及对应于所述TFT区域从下到上依次层叠设置于所述栅极绝缘层(4)上的非晶硅层 (5)、N型重掺杂非晶硅层(6)、及源/漏极(71); 其中,所述N型重掺杂非晶硅层(6)与源/漏极(71)在非晶硅层(5)上分布的位置与 尺寸相同,所述非晶硅层(5)中部形成有背沟道区(51),所述非晶硅层(5)在该背沟道区 (51)的厚度小于其它区域的厚度; 所述非晶硅层(5)与N型重掺杂非晶硅层(6)共同构成半导体层。
7. 如权利要求6所述的TFT基板结构,其特征在于,所述基板(1)为玻璃基板。
8. 如权利要求6所述的TFT基板结构,其特征在于,所述栅极(3)的材料为铜、铝、或 钼。
9. 如权利要求6所述的TFT基板结构,其特征在于,所述栅极绝缘层(4)的材料为氧化 硅或氮化硅。
10. 如权利要求6所述的TFT基板结构,其特征在于,所述源/漏极(71)的材料为铜、 错、或钼。
【专利摘要】本发明提供一种TFT基板的制作方法及其结构。该TFT基板的制作方法通过在第一道干蚀刻制程中将非晶硅层(5)位于非TFT区域的部分保留一定的厚度,在第二道干蚀刻制程中形成背沟道(51)的同时,蚀刻掉在非TFT区域保留下来的非晶硅层(5),从而防止栅极绝缘层(4)在第二道干蚀刻制程中受到损伤,提高了TFT基板的品质,减少了品质问题发生的风险,并且由于减少了第一道干蚀刻制程的蚀刻量,从而减少了干蚀刻制程时间,减短了生产周期,提高了工厂产能。本发明提供的一种TFT基板结构,其结构简单,栅极绝缘层完整无损伤,可提高液晶显示器的显示品质。
【IPC分类】H01L21-82, H01L27-02
【公开号】CN104766859
【申请号】CN201510209776
【发明人】孙博
【申请人】深圳市华星光电技术有限公司
【公开日】2015年7月8日
【申请日】2015年4月28日
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