一种氧化锌纳米材料电阻测量装置的制造方法
【专利摘要】一种氧化锌纳米材料电阻测量装置。氧化锌纳米材料在电气设备制造中被广泛应用，如纳米发电机，气体传感器，记忆存储器等。到目前为止，要测量氧化锌纳米材料电阻需要使用微电制造和特殊设计的设备，这必然增加了实验成本。一种氧化锌纳米材料电阻测量装置，其组成包括：导电基板，所述的导电基板与导线A连接，所述的导线A与电源连接，所述的电源通过导线B与电流表连接，所述的电流表通过导线C与原子力显微镜探针连接，所述的原子力显微镜探针与氧化锌纳米材料接触，所述的氧化锌纳米材料与导电基板连接，从而构成一个闭合的回路。本实用新型用于一种氧化锌纳米材料电阻测量装置。
【专利说明】
一种氧化锌纳米材料电阻测量装置
[0001 ] 技术领域:
[0002]本实用新型涉及一种氧化锌纳米材料电阻测量装置。
[0003]【背景技术】:
[0004]氧化锌纳米材料在在电气设备制造中被广泛应用，如纳米发电机，场效应晶体管，带栅门的二极管，气体传感器，记忆存储器等。研究发现，氧化锌纳米材料随着其长度(高度)的变化而变化，而且在有光照和黑暗条件下，其电阻变化情况并不一样。然而，到目前为止，要测量氧化锌纳米材料电阻需要使用微电制造和特殊设计的设备，这必然增加了实验成本。
[0005]【实用新型内容】:
[0006]本实用新型的目的是提供一种氧化锌纳米材料电阻测量装置，解决上述缺陷。
[0007]上述的目的通过以下的技术方案实现:
[0008]—种氧化锌纳米材料电阻测量装置，其组成包括:导电基板，所述的导电基板与导线A连接，所述的导线A与电源连接，所述的电源通过导线B与电流表连接，所述的电流表通过导线C与原子力显微镜探针连接，所述的原子力显微镜探针与氧化锌纳米材料接触，所述的氧化锌纳米材料与导电基板连接，从而构成一个闭合的回路。
[0009]所述的一种氧化锌纳米材料电阻测量装置，所述的原子力显微镜探针针尖部分涂有金涂层。
[0010]有益效果:
[0011]1.本实用新型利用原子力显微镜技术通过原子力显微镜探针与氧化锌纳米材料接触形成的闭合回路即可测量不同高度的氧化锌纳米材料的电流-电压曲线，最终确定氧化锌纳米材料电阻与其高度的关系。
[0012]2.本实用新型可在常压环境中测量氧化锌纳米材料的电流-电压曲线，不需要特殊的环境及设备，减少了实验的成本。
[0013]【附图说明】:
[0014]附图1是本实用新型的结构示意图。
[0015]【具体实施方式】:
[0016]实施例1:
[0017]—种氧化锌纳米材料电阻测量装置，其组成包括:导电基板I，所述的导电基板与导线A连接，所述的导线A 2与电源连接，所述的电源通过导线B与电流表3连接，所述的电流表通过导线C与原子力显微镜探针4连接，所述的原子力显微镜探针与氧化锌纳米材料5接触，所述的氧化锌纳米材料与导电基板6连接，从而构成一个闭合的回路。
[0018]实施例2:
[0019]根据实施例1所述的一种氧化锌纳米材料电阻测量装置，所述的原子力显微镜探针，其针尖部分涂有金涂层。
【主权项】
1.一种氧化锌纳米材料电阻测量装置，其特征是:其组成包括:导电基板，所述的导电基板与导线A连接，所述的导线A与电源连接，所述的电源通过导线B与电流表连接，所述的电流表通过导线C与原子力显微镜探针连接，所述的原子力显微镜探针与氧化锌纳米材料接触，所述的氧化锌纳米材料与导电基板连接，从而构成一个闭合的回路。2.根据权利要求1所述的一种氧化锌纳米材料电阻测量装置，其特征是:所述的原子力显微镜探针针尖部分涂有金涂层。
【文档编号】G01R27/08GK205581211SQ201620067518
【公开日】2016年9月14日
【申请日】2016年1月25日
【发明人】于广滨, 高海连, 陈溪, 段元旺
【申请人】哈尔滨理工大学