专利名称：一种oled基板的测试方法和装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及OLED显示技术领域，尤其涉及一种OLED基板的测试方法和装置。
背景技术：
采用OLED (Organic Light-Emitting Diode,有机发光二极管)的有机电致发光显示器是一种新兴的平板显示器件，由于其制备工艺简单、成本低、响应速度快、易于实现彩色显示等优点，得到了广泛应用。进而，随着薄膜晶体管的制程技术以及OLED的材料性能的不断改善，OLED也越来越普及。为了减少产品出厂前的不良率，对OLED基板的测试是不可缺少。现有技术中，为了对OLED基板进行测试，首先需要对OLED基板进行蒸镀，然后绑定驱动电路，通过该驱动电路逐行扫描基板的像素单元，并驱动像素单元依次点亮0LED，依次来检查该OLED是否存在缺陷。然而采用这种方式，当OLED无法点亮时，一方面无法明确判断是像素单元的缺陷还是驱动电路的缺陷，另一方面该测试方法制作周期较长，测试工艺复杂，成本较高。
发明内容
本发明的实施例提供一种OLED基板的测试方法和装置，能够缩短OLED基板的测试时间、降低测试成本，且测试工艺简单。为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案一方面，本发明实施例提供了一种OLED基板的测试装置，包括信号加载基板和信号源；
所述信号加载基板包括信号线接入模块，用于分别与所述OLED基板的数据线、扫描线、电源线和阴极线相连接；测试信号接入模块，用于与外部信号源相连接，通过所述信号线接入模块分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号；所述信号源，用于与所述信号加载基板的测试信号接入模块相连接，通过所述信号加载基板分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号。可选的，向所述扫描线提供测试信号的信号源包括环形接入区和扫描探针，所述环行接入区的每个接入点分别与一条扫描线相连接，所述扫描探针上加载有对扫描线进行测试的电压，所述信号源通过所述扫描探针依次与所述环形接入区的接入点相连接，逐行的向每条扫描线提供测试信号。可选的，向所述扫描线提供测试信号的信号源为包括移位寄存器的信号源，所述信号源通过所述移位寄存器逐行的向每条扫描线提供测试信号。可选的，所述信号源通过所述信号加载基板分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供的信号具体为向所述电源线提供电源电压，向所述阴极线提供接地电压，向所述数据线提供驱动电压，向所述扫描线提供开启电压。
另一方面，本发明实施例提供了一种OLED基板的测试方法，所述方法采用测试装置对所述OLED基板进行测试，所述测试装置包括信号加载基板和信号源，所述信号加载基板包括信号线接入模块和测试信号接入模块，该方法包括分别将所述OLED基板的数据线、扫描线、电源线和阴极线与所述信号线接入模块相连接；通过所述信号线接入模块分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号，所述信号线接入模块与所述信号源连接，所述信号源与所述信号加载基板的测试信号接入模块相连接，通过所述信号加载基板分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号。可选的，通过所述信号加载基板向所述扫描线提供测试信号的信号源包括环形接入区和扫描探针，所述环行接入区的每个接入点分别与一条扫描线相连接，所述扫描探 针上加载有对扫描线进行测试的电压；所述信号源通过所述扫描探针依次与所述环形接入区的接入点相连接，逐行的向每条扫描线提供测试信号。可选的，通过所述信号加载基板向所述扫描线提供测试信号的信号源为包括移位寄存器的信号源；所述信号源通过所述移位寄存器逐行的向每条扫描线提供测试信号。可选的，通过所述信号加载基板分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号具体为向所述电源线提供电源电压，向所述阴极线提供接地电压，向所述数据线提供驱动电压，向所述扫描线提供开启电压。
本发明实施例提供了一种OLED基板的测试装置和测试方法，该测试装置对于OLED基板来说，是通用的测试装置。该装置包括信号加载基板和信号源。其中信号加载基板包括信号线接入模块和测试信号接入模块，信号线接入模块分别与所述OLED基板的数据线、扫描线、电源线和阴极线相连，测试信号接入模块与外部信号源相连接，通过所述信号线接入模块分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号，而所述信号源，用于与所述信号加载基板的测试信号接入模块相连接，通过所述信号加载基板分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号。这样在对OLED基板的测试时，不再需要对所述OLED基板进行蒸镀，然后绑定专用的驱动电路，而是仅通过该通用的测试装置向该OLED提供测试信号就可以进行测试，从而可以缩短该OLED的测试周期，降低测试成本，测试工艺简单。
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图I为本发明实施例提供的一种OLED基板的测试装置结构示意图；图2为本发明实施例提供的另一种OLED基板的测试装置结构示意图；图3为OLED基板的像素驱动电路示意图4为本发明实施例提供的又一种OLED基板的测试装置结构示意图；图5为本发明实施例提供的一种OLED基板的测试方法流程示意图。
具体实施例方式下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。本发明实施例提供了一种OLED基板的测试装置，如图I所示，该测试装置包括信号加载基板11和信号源12。其中，所述信号加载基板11包括信号线接入模块111和测试信号接入模块112。
信号线接入模块111，用于分别与所述OLED基板的数据线、扫描线、电源线和阴极线相连接。测试信号接入模块112，用于与外部信号源相连接，通过所述信号线接入模块分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号。所述信号源12，用于与所述信号加载基板11的测试信号接入模块112相连接，通过所述信号加载基板11分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号。具体的，如图I所示，所述信号加载基板11上的信号线接入模块111包括有多个扫描线的接入线，分别用于与所述OLED基板的扫描线相连接；信号线接入模块111还包括有多个数据线的接入线，分别与所述OLED基板的数据线相连接；信号线接入模块111还包括电源线接入线，与所述OLED基板的电源线相连接；信号线接入模块111还包括有阴极线接入线，与所述OLED基板的阴极线相连接。而测试信号接入模块112与信号源12相连接，分别向所述OLED基板的数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号。可选的，在对OLED基板逐行进行测试时，如图2所示，向所述扫描线提供测试信号的信号源12包括环形接入区121和扫描探针122。其中环形接入区121的每一个接入点通过所述信号加载基板11分别与一条扫描线相连接，所述扫描探针122上加载有对扫描线进行测试的电压信号，所述扫描探针122依次与所述环形接入区121的接入点向连接，逐行的向每条扫描线提供测试信号。其中，所述扫描探针122可以人为转动逐行的向每条扫描线提供测试信号，当然，该扫描探针122可以作循环运动。进一步的，通过控制所述扫描探针122的运动速率，可以检测不同刷新率下的OLED基板的显示性能，同时可以实现对该OLED基板的老化测试。同时，所述信号源12通过所述信号加载基板11向所述OLED的数据线提供的测试电压信号为驱动电压，向电源线提供的电压为电源电压，向阴极线提供的电压为接地电压，而所述扫描探针122上加载的电压为开启电压。 示例性的，参考图3所示的OLED基板像素的TFT驱动电路图,该驱动电路包括晶体管Tl和T2，所述扫描探针122上加载的电压为+10V，即在向某一行的扫描线提供的开启电压Vsc为+IOV时，向数据线提供的驱动电压Vdata为+10V，向电源线提供的电源电压为+10V，向阴极线提供的接地电压为+0V。此时，若该像素正常工作下，晶体管T2导通，存储电容Cs开始进行充电，且随着Tl的栅极电位逐渐的提高，Tl开始导通，从而点亮该行的OLED0而在所述TFT驱动电路存在缺陷时，该OLED基板的显示状态时不正常的，如若该行的扫描线在某一像素位置发生断路，则从扫描线的输入端到扫描线断路点侧的像素单元的OLED处于点亮状态，而从断路点之后的OLED是无法点亮的；而若该行的扫描线短路，则该OLED基板上会存在多行像素的OLED被点亮的情况。当然所述OLED基板还可能存在其它缺陷，本发明实施例在此不再赘述。值得说明的是，图3所示的OLED像素的TFT驱动电路仅用于示例性的说明，而非限定本发明的OLED基板像素的TFT驱动电路。该OLED基板的像素具体采用何种驱动电路本发明实施例不作具体限定。基于以上过程，该OLED基板测试装置可以简单易行的实现对所述OLED基板的每行进行测试。可选的，向所述扫描线提供测试信号的信号源12还可以是包括移位寄存器的信 号源，所述信号源12通过所述移位寄存器逐行的向每条扫描线提供测试信号。从而可以实现对OLED基板的逐行测试，具体过程本实施例在此不再赘述。当然，此时所述信号源12通过所述信号加载基板11还向所述OLED的数据线提供的测试信号为驱动电压，向电源线提供的电压为电源电压，向阴极线提供的电压为接地。可选的，通过所述OLED基板的测试装置，还可以实现对OLED的全屏测试，此时，如图4所示，所述信号源12通过所述信号加载基板11分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供的信号具体为向所述电源线提供电源电压，向所述阴极线提供接地电压，向所述数据线提供驱动电压，向所述扫描线提供开启电压。在对OLED基板进行全屏测试时，若该OLED基板没有缺陷时，该OLED基板是处于全屏点売的状态，而此时若OLED基板的像素存在断路的缺陷时，该OLED基板上断路的像素点是无法被点亮的。故可以方便检测出该OLED基板存在断路缺陷。需要说明的是，在实际测试中分别向所述扫描线、数据线、电源线和阴极线提供的驱动电压、电源电压和接地电压，根据OLED基板的规格要求的不同而不同，本发明实施例对此不作具体限定。其中，所述OLED基板测试装置优选的用于对AMOLED (ActiveMatrix OrganicLight Emission Display,有源矩阵有机发光显示器)基板的测试。可选的，该测试装置包括信号加载基板11和信号源12。其中所述信号加载基板11可以设置在FPC上(Flexible Printed Circuit的简称，又称柔性印刷电路板)，信号源12可以设置在PCB上(Printed Circuit Board的简称，印刷电路板)。本发明实施例提供了一种OLED基板的测试装置，该测试装置对于OLED基板来说，是通用的测试装置。该装置包括信号加载基板和信号源。其中所述信号加载基板包括信号线接入模块和测试信号接入模块，信号线接入模块分别与所述OLED基板的数据线、扫描线、电源线和阴极线相连，测试信号接入模块与外部信号源相连接，通过所述信号线接入模块分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号，而所述信号源，用于与所述信号加载基板的测试信号接入模块相连接，通过所述信号加载基板分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号。这样在对OLED基板的测试时，不再需要对所述OLED基板进行蒸镀，然后绑定专用的驱动芯片，而是仅通过该通用的测试装置向该OLED提供测试信号就可以进行测试，从而可以缩短该OLED的测试周期，降低测试成本，且测试工艺简单。 本发明实施例还提供了一种OLED基板的测试方法，所述方法采用实施例一提供的测试装置对所述OLED基板进行测试，如图I所示，所述测试装置包括信号加载基板11和信号源12，所述信号加载基板11包括信号线接入模块111和测试信号接入模块112，如图5所示,该方法包括S501、分别将所述OLED基板的数据线、扫描线、电源线和阴极线与所述信号线接入模块111相连接。具体的，如图I所示，所述信号加载基板11上的信号线接入模块111包括有多个扫描线的接入线，分别用于与所述OLED基板的扫描线相连接；信号线接入模块111还包括有多个数据线的接入线，分别与所述OLED基板的数据线相连接；信号线接入模块111还包括电源线接入线，与所述OLED基板的电源线相连接；信号线接入模块111还包括有阴极线接入线，与所述OLED基板的阴极线相连接。而测试信号接入模块112与信号源12相连接，分别向所述OLED基板的数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号。S502、通过所述信号线接入模块111分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号，所述信号线接入模块111与所述信号源12连接，所述信号源与所述信号加载基板11的测试信号接入模块112相连接，通过所述信号加载基板11分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号。可选的，在对OLED基板逐行进行测试时，通过所述信号加载基板11向所述扫描线提供测试信号的信号源包括环形接入区和扫描探针，所述环行接入区的每个接入点分别与一条扫描线相连接，所述扫描探针上加载有对扫描线进行测试的电压；所述信号源通过所述扫描探针依次与所述环形接入区的接入点相连接，逐行的向每条扫描线提供测试信号。其中，所述扫描探针可以人为转动逐行的向每条扫描线提供测试信号，当然，该扫描探针可以作循环运动。进一步的，通过控制所述扫描探针的运动速率，可以检测不同刷新率下的OLED基板的显示性能，同时可以实现对该OLED基板的老化测试。在逐行进行测试时，所述信号源12通过所述信号加载基板11向所述OLED的数据线提供的测试信号为驱动电压，向电源线提供的电压为电源电压，向阴极线提供的电压为接地电压，而所述扫描探针上加载的电压为开启电压。可选的，通过所述信号加载基板向所述扫描线提供测试信号的信号源为包括移位寄存器的信号源；所述信号源通过所述移位寄存器逐行的向每条扫描线提供测试信号。当然，此时所述信号源12通过所述信号加载基板11还向所述OLED的数据线提供的测试信号为电源电压，向电源线提供的电压为电源电压，向阴极线提供的电压为接地电压。可选的，通过所述OLED基板的测试装置，还可以实现对OLED的全屏测试。其中，通过所述信号加载基板11分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号具体为向所述电源线提供电源电压，向所述阴极线提供接地电压，向所述数据线提供驱动直流电压，向所述扫描线提供开启电压。
在对OLED基板进行全屏测试时，若该OLED基板没有缺陷时，该OLED基板是处于全屏点売的状态，而此时若OLED基板的像素存在断路的缺陷时，该OLED基板上断路的像素点是无法被点亮的。故可以方便检测出该OLED基板存在断路缺陷。需要说明的是，在实际测试中分别向所述扫描线、数据线、电源线和阴极线提供的驱动电压、电源电压和接地电压，根据OLED基板的规格要求的不同而不同，本发明实施例对此不作具体限定。其中，所述OLED基板测试方法优选的用于对AMOLED基板的测试。可选的，所述OLED基板测试方法可以将OLED基板的各信号线通过FPC绑定，然后通过FPC与PCB相连，此时只将扫描信号线引到PCB上，通过在PCB上提供扫描信号线的测试信号，同时在PCB以外的位置提供其余信号线的测试信号，即可以在PCB上就完成对OLED基板的检测。优选的，所述OLED基板测试方法将OLED基板的各信号线通过FPC绑定，然后通过 FPC与PCB相连，将各信号线引到PCB上，通过在PCB上提供各信号线的相应的测试信号，即可以在PCB上就完成对OLED基板的检测。本发明实施例提供了一种OLED基板的测试方法，该测试方法采用上述实施例提供的测试装置进行测试，该测试装置对于OLED基板来说，是通用的测试装置。该装置包括信号加载基板和信号源。其中信号加载基板包括信号线接入模块和测试信号接入模块，信号线接入模块分别与所述OLED基板的数据线、扫描线、电源线和阴极线相连，测试信号接入模块与外部信号源相连接，通过所述信号线接入模块分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号，而所述信号源，用于与所述信号加载基板的测试信号接入模块相连接，通过所述信号加载基板分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号。这样在对OLED基板的测试时，不再需要对所述OLED基板进行蒸镀，然后绑定专用的驱动芯片，而是仅通过该通用的测试装置向该OLED提供测试信号就可以进行测试，从而可以缩短该OLED基板的测试周期，降低测试成本，且测试工艺简单。以上所述，仅为本发明的具体实施方式
，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
权利要求
1.一种OLED基板的测试装置，其特征在于，包括信号加载基板和信号源； 所述信号加载基板包括 信号线接入模块，用于分别与所述OLED基板的数据线、扫描线、电源线和阴极线相连接； 测试信号接入模块，用于与外部信号源相连接，通过所述信号线接入模块分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号； 所述信号源，用于与所述信号加载基板的测试信号接入模块相连接，通过所述信号加载基板分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号。
2.根据权利要求I所述的测试装置，其特征在于，向所述扫描线提供测试信号的信号源包括环形接入区和扫描探针，所述环行接入区的每个接入点分别与一条扫描线相连接，所述扫描探针上加载有对扫描线进行测试的电压，所述扫描探针依次与所述环形接入区的接入点相连接，逐行的向每条扫描线提供测试信号。
3.根据权利要求I所述的测试装置，其特征在于，向所述扫描线提供测试信号的信号源为包括移位寄存器的信号源，所述信号源通过所述移位寄存器逐行的向每条扫描线提供测试信号。
4.根据权利要求I所述的测试装置，其特征在于，所述信号源通过所述信号加载基板分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供的信号具体为向所述电源线提供电源电压，向所述阴极线提供接地电压，向所述数据线提供驱动电压，向所述扫描线提供开启电压。
5.一种OLED基板的测试方法，其特征在于，所述方法采用OLED基板测试装置对所述OLED基板进行测试，所述OLED基板测试装置包括信号加载基板和信号源，所述信号加载基板包括信号线接入模块和测试信号接入模块，该方法包括 分别将所述OLED基板的数据线、扫描线、电源线和阴极线与所述信号线接入模块相连接; 通过所述信号线接入模块分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号，所述信号线接入模块与所述信号源连接，所述信号源与所述信号加载基板的测试信号接入模块相连接，通过所述信号加载基板分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号。
6.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，通过所述信号加载基板向所述扫描线提供测试信号的信号源包括环形接入区和扫描探针，所述环行接入区的每个接入点分别与一条扫描线相连接，所述扫描探针上加载有对扫描线进行测试的电压； 所述信号源通过所述扫描探针依次与所述环形接入区的接入点相连接，逐行的向每条扫描线提供测试信号。
7.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，通过所述信号加载基板向所述扫描线提供测试信号的信号源为包括移位寄存器的信号源； 所述信号源通过所述移位寄存器逐行的向每条扫描线提供测试信号。
8.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，通过所述信号加载基板分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号具体为 向所述电源线提供电源电压，向所述阴极线提供接地电压，向所述数据线提供驱动电压，向所述扫描线提供开启电压。
全文摘要
本发明实施例提供了一种OLED基板的测试装置和测试方法，能够缩短该OLED基板的测试周期，降低测试成本。该装置包括信号加载基板和信号源；所述信号加载基板包括信号线接入模块，用于分别与所述OLED基板的数据线、扫描线、电源线和阴极线相连接；测试信号接入模块，用于与外部信号源相连接，通过所述信号线接入模块分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号；所述信号源，用于与所述信号加载基板的测试信号接入模块相连接，通过所述信号加载基板分别向数据线、扫描线、电源线和阴极线提供测试信号。本发明实施例适用于OLED基板的制造领域。
文档编号G09G3/00GK102831851SQ201210331650
公开日2012年12月19日 申请日期2012年9月7日 优先权日2012年9月7日
发明者梁逸南 申请人:京东方科技集团股份有限公司