专利名称：Qfn芯片重力式测试下料装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及精密机械领域，尤其涉及一种应用于分选机的芯片重力式测试下料装置。
背景技术：
目前旺盛的封测市场需求对封测企业的生产能力以及生产的稳定性都提出了新 的要求。但现有的封测设备(如自动检测分类机等)难以满足生产的要求。其主要原因在 于，旧有的封测设备自动性能较差，一般都是采用人工或半自动下料机构，难以满足目前IC 封装形式、型号快速多变的实际需要。原有的下料装置由于横向布置汽缸，造成整个下料装置的外型尺寸偏大，操作不 便。并且，横向布置的汽缸对下料的冲击力也较大，噪音大，容易对料管造成损伤。冲击力 较大还使得整个下料装置的稳定性较差，难以满足整机大批量、快速加工的需要。因此，本领域的技术人员一直致力于开发一种效率高的应用于QFN芯片重力式测 试下料装置。
发明内容
有鉴于现有技术的上述缺陷，本发明所要解决的技术问题是提供一种效率高且换 向平稳、冲击力小的QFN芯片重力式测试下料装置。为实现上述目的，本发明提供了一种QFN芯片重力式测试下料装置，至少包括倾 斜设置的下料工作台；所述下料工作台上并列设置有多个用于放置料管的料管槽；所述料 管槽内料管的下方设置有料管上推装置；所述下料工作台上还设置有将所述料管推送到料 管弹夹中的横向推送机构。较佳地，所述下料工作台的上侧设置有成品分选机构。较佳地，所述成品分选机构设有多个良品工位和至少一个次品工位。进一步地，多 个所述料管槽中至少包括一个用于容盛良品的成品料管槽，所述成品料管槽的入口端与所 述良品工位对应设置。多个所述料管槽中至少包括一个用于容盛次品的次品料管槽，所述 次品料管槽的入口端与所述次品工位对应设置。较佳地，所述料管弹夹设置在所述下料工作台上，位于所述料管槽的一侧。本发明由于上述结构设计，通过设置料管上推装置及横向推送机构，提升了整机 的自动化率，具有传送平稳，结构紧凑、高效且造价低廉的有益效果。以下将结合附图对本发明的构思、具体结构及产生的技术效果作进一步说明，以 充分地了解本发明的目的、特征和效果。
图1是本发明一具体实施例中下料装置的整体结构示意图；图2是图1所示实施例中位于料管下方的料管上推装置结构示意图。
具体实施例方式如图1所示为本发明一具体实施例的结构示意图。本发明的下料装置包括倾斜设 置的下料工作台1，这样料(如被检测的卡等)会在自重作用下顺着轨道向下滑动。下料工作台1的上侧设置有成品分选机构(图中未示出)，成品分选机构的动作 是有电机带动丝杠来完成。本实施例中，成品分选机构设有4个良品工位和4个次品工位 (在其他具体实施例中，也可以只设置1个次品工位)。料管槽3的进口的位置设置分别与 这4个良品工位和4个次品工位一一对应。对应于良品工位的料管槽3里放置的料管2即 为良品料管，对应于次品工位的料管槽3里放置的料管2即为次品料管。本实施例中，下料工作台1上并列设置有8个用于放置料2的料管槽3，以分别与 成品分选机构的4个良品工位和4个次品工位一一对应。下料工作台1上在料管槽3的一 侧还设置有料管弹夹4，用于放置空的料管2。进一步地，本实施例中，8个料管槽3中至少 包括一个用于容盛良品的成品料管槽，至少包括一个用于容盛次品的次品料管槽。如图2所示，料管槽3内料管2的下方设置有料管上推装置6。料管上推装置6的 结构主要是气缸及滑块、导轨。通过气缸带动滑块在导轨中滑动，形成一连杆机构，实现料 管2的上下动作。下料工作台1上还设置有将料管2推送到料管弹夹4中的横向推送机构5。横向 推送机构5位于料管上推装置6的上侧，并设置在料管上推装置6上。横向推送机构5的结构设计主要是气缸及多个交叉设置的摆杆51，摆杆51的端部 还设置有夹持杆52。多个交叉设置的摆杆51互相呈X型安装，铰接点在交叉部。相邻的两 个摆杆51为一组，可通过相邻的这两个摆杆51的靠近或分离，使相邻的两个夹持杆52对 料管2形成夹持或放开操作。另外，一组中的相邻的两个摆杆51在夹持住料管2时，还可 以通过气缸控制其横向位移，使它所夹持的料管2可以从工作位置横移到料管弹夹4，或从 料管弹夹4横移到工作位置。以下说明本发明的装置的工作流程成品分选机构把成品的料分选为良品和次品后，分别送到良品料管和次品料管 中，使良品和次品分别被容盛在空的良品料管和空的次品料管中。在料管被料装满后，料管 上推装置6先将料管2上推，脱离料管槽3。其后，横向推送机构5将料管2横向位移，送回 料管弹夹4中，并取出一支新的空料管，再横移回到料管的工作位置。此时，料管上推装置 6再下移归位，使料管被卡入料管槽3中，继续接纳来自成品分选机构的料。上述的横向推送机构及料管上推装置的动力部分，均来自设置在其下侧的各个气 缸，以及配套的滑块等部件。综上所述，本说明书中所述的只是本发明的几种较佳具体实施例，以上实施例仅 用以说明本发明的技术方案而非限制。凡本技术领域中技术人员依本发明的构思在现有技 术的基础上通过逻辑分析、推理或者有限的实验可以得到的技术方案，皆应在本发明的权 利要求保护范围之内。
权利要求
1.一种QFN芯片重力式测试下料装置，至少包括倾斜设置的下料工作台；所述下料工 作台上并列设置有多个用于放置料管的料管槽；其特征在于所述料管槽内料管的下方设 置有料管上推装置；所述下料工作台上还设置有将所述料管推送到料管弹夹中的横向推送 机构。
2.如权利要求1所述的测试下料装置，其特征在于所述下料工作台的上侧设置有成 品分选机构。
3.如权利要求2所述的测试下料装置，其特征在于所述成品分选机构设有多个良品 工位和至少一个次品工位。
4.如权利要求3所述的测试下料装置，其特征在于多个所述料管槽中至少包括一个 用于容盛良品的成品料管槽，所述成品料管槽的入口端与所述良品工位对应设置。
5.如权利要求3所述的测试下料装置，其特征在于多个所述料管槽中至少包括一个 用于容盛次品的次品料管槽，所述次品料管槽的入口端与所述次品工位对应设置。
6.如权利要求1所述的测试下料装置，其特征在于所述料管弹夹设置在所述下料工 作台上，位于所述料管槽的一侧。
全文摘要
本发明公开了一种QFN芯片重力式测试下料装置，至少包括倾斜设置的下料工作台；所述下料工作台上并列设置有多个用于放置料管的料管槽；所述料管槽内料管的下方设置有料管上推装置；所述下料工作台上还设置有将所述料管推送到料管弹夹中的横向推送机构。本发明由于上述结构设计，通过设置料管上推装置及横向推送机构，提升了整机的自动化率，具有传送平稳，结构紧凑、高效且造价低廉的有益效果。
文档编号B07C5/36GK102085515SQ201010550698
公开日2011年6月8日 申请日期2010年11月19日 优先权日2010年11月19日
发明者蔡微微, 贺怀珍 申请人:上海微曦自动控制技术有限公司