。在该时段期间的应力条件低于第二时间段的应力条件。在 第四时间段中，有源像素的亮度由迹线308表示，迹线308示出了向基于400与500尼特之 间的较高亮度的较高应力条件的返回。
[0053] 对于每个有源像素104的具体应力条件，有限数量的参考像素130以及对应的有 限数量的应力条件可要求使用平均或连续（移动）平均。对于每个像素，具体应力条件可 以被映射为来自多个参考像素130的特性关联曲线的线性组合。预定应力条件下的两个 特性曲线的组合能够对出现在这些应力条件之间的所有应力条件进行精确的补偿。例如， 高和低应力条件下的两个参考特性关联曲线能够为具有处于这两个参考曲线之间的应力 条件的有源像素确定接近的特性关联曲线。控制器112使用加权移动平均算法（weighted moving average algorithm)来组合被存储在存储器118中的第一和第二参考特性关联曲 线。有源像素在某个时间处的应力条件St U1)可以被表示为：
[0054] St (t；) = (St (t； 1)*kavg+L(ti))/(kavg+l)
[0055] 在该公式中，Stai J是在先前时间处的应力条件，kavg是移动平均常数。L (t J是 有源像素在该某个时间处的测量亮度，其可以通过如下公式确定：
[0057] 在该公式中，L_k是显示器系统100的设计容许的最高亮度。变量g(t J是在测 量时的灰度，g_k是使用的最高灰度值（例如，255)，且γ是伽马常数。使用预定的高和低 应力条件的特性关联曲线的加权移动平均算法可以经由以下公式来确定补偿因子Kranip:
[0058] Kconp= K hlghfhlgh ( A I) +Klowflow ( Δ I)
[0059] 在该公式中，fhlgh是与高预定应力条件的特性关联曲线相对应的第一函数，并且 flm?是与低预定应力条件的特性关联曲线相对应的第二函数。A I是在固定电压输入下 OLED中的电流的变化，其示出了在特定时间处测量的由老化效应引起的变化（电学劣化）。 应当理解，电流的变化可以被替换为固定电流下的电压的变化AV。Khlgh是被分配给高应力 条件的特性关联曲线的加权变量，并且Klciw是被分配给低应力条件的特性关联曲线的权重。 可以根据以下公式来确定加权变量KhlgJP K lOT:
[0060] Khlgh=SUt1VLhlgh
[0061] Klow= I-Khigh
[0062] 这里，1^_是与高应力条件相关的亮度。
[0063] 在运行期间的任何时间处的有源像素中的电压或者电流的变化表示电学特性，而 作为高或低应力条件的函数的一部分的电流变化表示光学特性。在该示例中，将高应力条 件下的亮度、峰值亮度和平均补偿因子（两个特性关联曲线之间的差的函数）Kavg存储在存 储器118中，以用于确定每个有源像素的补偿因子。将附加变量存储在存储器118中，附加 变量包括但不限于显示器系统100容许的最大亮度的灰度值（例如，灰度值255)。另外，可 以根据将应力条件施加到参考像素期间获得的数据来凭经验地确定平均补偿因子Kavg。
[0064] 因而，可以调整显示器系统100中的任何像素 104的光学劣化和电学老化之间的 关系，以避免与由不同的应力条件引起的特性关联曲线的差别（divergence)相关的误差。 所存储的特性关联曲线的数量还可以被最小化到如下数量，该数量确保平均技术对于所要 求的补偿水平来说是足够精确的。
[0065] 补偿因子K_p可以用于通过调节有源像素的编程电压来补偿OLED光效率老化。 另一个用于针对有源像素上的应力条件确定适当的补偿因子的技术可以被称为动态移动 平均（dynamic moving averaging)。动态移动平均技术包括：在显示器系统100的寿命期 间改变移动平均系数Kavg，以对不同的预定应力条件下的两个特性关联曲线之间的差别进 行补偿，从而防止显示器输出的畸变。随着有源像素的OLED老化，不同应力条件下的两个 特性关联曲线之间的差别增大。因此，在显示器系统100的寿命期间可以增大Kavg，以避免 具有落在两个预定应力条件之间的应力条件的有源像素的两个曲线之间的急剧过渡。可以 使用所测量的电流变化A I来调节Kavg值，以提高用于确定补偿因子的算法的性能。
[0066] 在另一个用于提高补偿处理的性能的技术（被称为基于事件的移动平均）中，在 每个老化阶段之后使系统复位。该技术进一步提高了对每个有源像素104的OLED的特性 关联曲线的提取。在每个老化阶段之后（或者在用户开启或者关闭显示器系统100之后） 复位显示器系统100。在该示例中，通过如下公式来确定补偿因子心胃：
[0067] Kcomp= K comp evt+Khigh (fhigh ( Δ I)-fhigh(A Ievt))+Klow (flow ( Δ I)-flow(A Ievt))
[0068] 在该公式中，K_p_OTt是在先前时间处计算的补偿因子，并且Al ^是在固定电压下 在先前时间期间的OLED电流的变化。如同其它补偿确定技术一样，电流的变化可以被替换 为固定电流下的OLED电压的变化。
[0069] 图4是示出了基于不同技术的不同特性关联曲线的曲线图400。曲线图400比较 了光学补偿百分比的变化和用于产生给定电流所需的有源像素的OLED的电压的变化。如 曲线图400所示，在用于反映有源像素老化的电压的更大的变化处，高应力预定特性关联 曲线402从低应力预定特性关联曲线404偏离。成组的点406表示通过移动平均（moving averaging)技术并根据预定特性关联曲线402和404在不同的电压变化处确定的用于有源 像素的电流补偿的校正曲线。随着用于反映老化的电压的变化增大，校正曲线406的过渡 在低应力特性关联曲线404和高应力特性关联曲线402之间具有急剧过渡。成组的点408 表示通过动态移动平均（dynamic moving averaging)技术确定的特性关联曲线。成组的 点410表示通过基于事件的移动平均（event-based moving averaging)技术确定的补偿 因子。基于OLED特性，可以使用上述技术中的一种技术来提高对OLED效率劣化的补偿。
[0070] 如上所述，测量第一组样本像素的电学特性。例如，可以通过与每个像素连接的薄 膜晶体管（TFT)来测量第一组样本像素中的每个像素的电学特性。可替代地，例如，可以通 过为第一组的样本像素中的每个像素设置的光传感器来测量光学特性（例如，亮度）。可以 根据一个以上的像素的电压的漂移来提取每个像素的亮度所要求的变化量。这可以通过用 于确定被提供到像素的电压或者电流的漂移和/或该像素中的发光材料的亮度之间的相 关性的一系列计算来实现。
[0071] 可以通过诸如图1中的控制器112的处理器件或者其它此类器件之类的处理器 件来执行上述用于提取特性关联曲线以补偿阵列中的像素的老化的方法，对于计算机、软 件和网络领域的技术人员来说能够理解的是，可以据如本文中描述和示出的教导而经过 编程的一个以上的通用计算机系统、微处理器、数字信号处理器、微控制器、专用集成电路 (ASIC)、可编程逻辑器件（PLD)、现场可编程逻辑器件（FPLD)、现场可编程门阵列（FPGA)等 方便地实现上述处理器件。
[0072] 另外，两个以上的计算系统或器件可以代替本文中描述的控制器中的任何一个。 因此，如需要，还能够实现诸如冗余、复制等之类的分布式处理的原理和优点，以增加本文 中描述的控制器的稳健性和性能。
[0073] 可以通过机器可读指令来执行用于补偿老化方法的示例特性关联曲线的操作。在 这些示例中，机器可读指令包括由如下装置执行的算法：（a)处理器、（b)控制器、和/或 (c) 一个以上的其它合适的处理器件。算法可以被实施为诸如闪存存储器、⑶-R0M、软盘、 硬盘驱动、数字视频（多用途）盘（DVD)之类的有形介质或者其它存储器件上存储的软件， 但是本领域技术人员将容易理解，整个算法和/或其部分能够可替代地由除处理器以外的 器件执行和/或以公知的方式被实施为固件或专用硬件（例如，它